產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
LED模組和燈具的典型失效模式包含了不同層次的失效模式，涉及到LED封裝結(jié)構(gòu)以及工藝過程（如表1）。LED在實際使用中，由于復(fù)雜的環(huán)境以及封裝工藝局限性從而使封裝材料退化、熒光粉退化、金屬電遷移、局部溫度過高產(chǎn)生的熱應(yīng)力所引起的芯片和硅膠的分層或金線斷裂等等，從而影響LED發(fā)光甚至導(dǎo)致整個LED的失效。而且LED產(chǎn)生的高溫會導(dǎo)致芯片的發(fā)光效率降低，光衰加快、色移等嚴(yán)重后果。
表1 LED照明系統(tǒng)中的典型失效模態(tài)
等級 | 失效模式 |
芯片 | LED芯片失效 |
封裝 | 封裝 光型變化 靜電擊穿 膠材黃化
|
照明系統(tǒng) | 光型變化 |
由于LED壽命長，通常采取加速環(huán)境試驗的方法進(jìn)行可靠性測試與評估。加速度測試將會模仿燈具的應(yīng)用條件或用戶要求，這樣可以更有效地研究各種破壞機理，提供大量數(shù)據(jù)去研究LED的結(jié)構(gòu)、材料、工藝從而更好完善LED產(chǎn)品。一些典型的加速可靠性試驗（如表2）。
表2 應(yīng)用于LED照明系統(tǒng)的典型加速可靠性實驗
測試項目 | 條件 |
冷熱循環(huán) | -40℃~125℃200循環(huán) |
高溫高濕 | 85℃/85%，1000小時 |
關(guān)機測試 | 1小時開/1小時關(guān) |
震動測試 | 隨機振動 |
以上設(shè)備，請采購東莞市勤卓品牌LED的恒溫恒濕試驗箱，高低溫試驗箱，冷熱沖擊試驗箱，模擬運輸振動臺等測試設(shè)備。
然而，加速老化試驗只是研究問題的一個方面，對LED壽命的預(yù)測機理和方法的研究仍是有待研究的難題。現(xiàn)在的LED技術(shù)面臨著巨大的挑戰(zhàn)和機遇。企業(yè)的目標(biāo)主要是保證產(chǎn)品長期的可靠性，例如，根據(jù)產(chǎn)品不同，LED應(yīng)用的范圍壽命從7000小時到50000～100000小時不等。這對于一個電子企業(yè)是有相當(dāng)挑戰(zhàn)性的，因為他們的電子產(chǎn)品現(xiàn)在只有2-3年壽命。對于50000～100000小時的SSL系統(tǒng)（包括電源驅(qū)動），有必要進(jìn)行可靠性設(shè)計，以符合產(chǎn)品的高要求。
目前，如何通過加速老化試驗準(zhǔn)確地預(yù)測LED產(chǎn)品的可靠性還是相當(dāng)有挑戰(zhàn)性的。對于LED產(chǎn)品的長期可靠性，應(yīng)當(dāng)關(guān)注如何建立用加速試驗來反映產(chǎn)品中出現(xiàn)的問題。對于了解和預(yù)測宏觀系統(tǒng)的可靠性，可測性非常具有挑戰(zhàn)性，主要是因為可靠性是一個多學(xué)科的問題，并且涉及到材料、設(shè)計、制造工藝、試驗和應(yīng)用條件。因此，有必要開發(fā)LED燈和燈具的加速試驗以及戶外照明燈具性能測試實驗，從而可以有效地研究關(guān)于LED的各種破壞機理。
據(jù)悉，飛利浦公司目前致力于研究可靠性測試標(biāo)準(zhǔn)，從而深入了解LED以及電源驅(qū)動的失效機理。有理由相信，在不遠(yuǎn)的將來將會有快速的、可靠的、適合于長壽命的LED照明系統(tǒng)的可靠性測試實驗及標(biāo)準(zhǔn)。（
